PROFITEST PV
Piekvermogen meettoestel en karakterstiek kurve Tracer voor Foto-voltaïsche systemen (nieuw)
- Meten van de karakteristieke I-U kurves van PV modules en strings tot 1000 V DC, 20 A DC en 20 kW.
- De opgemeten I-U kurve is uiterst nauwkeurig dankzij gestage meting op de capacitieve belasting.
- Meting van de kortsluitstroom Isc, open kring spanning Uoc, ogenblikkelijk piekvermogen van een zonnecel Pmax, seriële weerstand Rs en de interne parallelweerstand Rp
- Automatische omzetting van de momentaan gemeten waarden naar STC.
--------------------
- Gepatenteerd berekeningsproces voor de evaluatie van PV generators zonder kennis van de specificaties van de fabrikant.
- Gepatenteerd berekeningsproces voor de bepaling van de generators interne seriële weerstand enkele gebaseerd op de gemeten karaktersitiek van de I-U kurve.
--------------------
- Geïntegreerde klanten database met bidirectionele data-uitwisseling.
- Geïntegreerde module database met bidirectionele data-uitwisseling.
--------------------
- Een hoog niveau van intrinsieke veiligheid dankzij de inbegrepen lastafschakelaar (1000 V / 32 A DC).
- Vermogen en temperatuurmeting via 4-draads kabel voor foutloze resultaten.
- Afzonderlijke temperatuurmeting aan de bestralingssensor en de achterzijde van de module (Pt100) voor een verhoogde meetnauwkeurigheid.
- Gelijktijdige aanduiding van de aktuele bestraling en temperatuur geven informatie over de meetomstandigheden.
- Eénvoudige touch-screen bediening.
- Een sterk verlicht, met hoge resolutie kleuren TFT display met energiebesparande LED verlichting (geschikt voor gebruik in direkt zonlicht!).
- Externe voeding voor het opladen van de batterijen, en voor langdurige werking met het meetinstrument.
--------------------
- Software voor grafische voorstelling, evaluatie en documenteren met geïntegreerde databank.
- Bediening via de PC met direkte import van de metingen is eveneens mogelijk (bvb voor lange termijn metingen).
- Open interfaces voor gebruik van het toestel in speciale toepassingen.
The differences ...
Why is measurement with capacitive load necessary?
On the one hand, measurement of characteristic curves for PV generators (modules, strings, arrays) must not be conducted too quickly (high dV/dt), because the measured characteristic curve may be changed in the case of rapid measurement (< 20 ms) due to the capacitive/inductive attributes of the generator or the test setup, in which case not only the characteristics of the PV generator are reflected in the measurement results. On the other hand, measurement must not be too slow either (> 1 sec.), because the danger of fluctuating radiant exposure is otherwise significantly increased, which would influence measurement results. This affects module temperature as well, which reacts relatively sluggishly but nevertheless can change within a matter of seconds.
Patented calculation process for determining the generator’s internal series resistance based solely on a measured characteristic I-U curve:
This resistance is the physical result of the material used to manufacture the module, as well as its layout and wiring connections, and normally has a constant value. For example, it amounts to roughly 1 ? for crystalline modules and more than 2 ? for thin-film modules. As of recently, measurement of internal series resistance can be performed with instruments from the Profitest PV product range. Only a single characteristic I-U curve has to be traced at the module for this purpose. On the basis of this characteristic curve, the instrument automatically calculates RS, as well as peak power PPK and parallel resistance RP.
Theoretically anticipated internal series resistance RS can be calculated. For example, this is possible with the software if the the following characteristic STC values are known for the module: Uoc, Isc, UMpp and IMpp.
The calculated RS value can then be compared with the measured value, which is read out by a Profitest PV after curve tracing. If the measured value is too high, wiring must be inspected for interruptions, corrosion, connection errors and underdimensioning.